iCAx开思网

标题: 可变剖面扫描曲面过程问题 [打印本页]

作者: hwapin 时间: 2007-6-26 16:36
标题: 可变剖面扫描曲面过程问题
在购书中心买了两本书学习Pro/E几天了，现在还不能灵活的运用。在学习过程中发现两个问题，请教各位前辈们：

   1、”可变剖面扫描是特征剖面沿着轨迹线扫描而成的曲面，剖面的形状随着轨迹的变化而变化。“
         这句话中的变化的运算依据是什么（算法是什么）？

   2、”可变剖面扫描需要定义一个剖面外，还涉及到多条轨迹，这些轨迹分别为：一条原始轨迹、一条X轨迹、多条一般轨迹。“
         这句话中各个轨迹的作用是什么？各个轨迹有什么要求？

以上两个问题请教，望不惜赐教！

作者: aqb3322 时间: 2007-6-26 16:58
其实解释起来很费劲。。
你试一试各种都乱来一下。应该可以发现其中的规律。

期待可以解释的高手、

作者: hwapin 时间: 2007-6-26 17:16
谢谢，我也尝试过乱画，但是没有成功。
期待前辈们解析！！

欢迎光临 iCAx开思网 (https://www.icax.net/)